AFM Nanowizard IV XP Hybrid Stage - Contact
- Contact intermittent
- Quantitative Imaging
- Spectroscopie de force
- Air/liquide
- Nanowizard IV XP Hybrid Stage
- Contact
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- Spectroscopie de force
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- Nanowizard IV XP Hybrid Stage
Description : Microscope à force atomique Nanowizard IV XP Hybrid Stage (JPK-Bruker). L'AFM est équipé de piézoélectriques XYZ 100x100x15 um^3 et couplé à un Hybrid Stage. Le Hybrid Stage dispose de piézoélectriques XYZ supplémentaires (100 µm chacun) et de moteurs pas à pas XY pour des mouvements de grande amplitude. L'AFM est couplé à un microscope inversé à épifluorescence Zeiss AxioObserver Z1 et à un système optique à vue de dessus. Grâce au module logiciel Direct Overlay, les images optiques (provenant de l'une des sources) peuvent être utilisées pour définir les zones d'intérêt à scanner par l'AFM.
Les modalités d'imagerie disponibles sont le mode contact, le mode contact intermittant (AC, correspondant au mode Tapping de Bruker), le mode PeakForce Tapping, l'imagerie quantitative (QI) et le mode modulation de force. Le microscope peut être utilisé en spectroscopie de force dans les modalités suivantes : rampe standard (ramp), Smart Mapping, Force Mapping (FM, correspondant au Force Volume de Bruker) et imagerie quantitative (mais les courbes de force ne peuvent pas être enregistrées). En mode Smart Mapping uniquement, si les limites piézoélectriques sont atteintes, l'instrument déplace automatiquement les moteurs X, Y ou Z pour recentrer l'échantillon dans la plage piézoélectrique.
2 supports d'échantillons sont disponibles :
* un support simple pour les lames de verre et les grandes boîtes de Pétri (50/60 mm) ;
* un support chauffant pour boîtes de Pétri, acceptant uniquement les boîtes de Pétri de 35 mm (voir le manuel pour la liste des boîtes compatibles). Ce support p
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