MEB TESCAN VEGA 3
  • analyse EDS
  • SE
  • BSE
  • vide partiel

Microscopie > Electronique > Balayage

Ce microscope de la plateforme Caractérisation et Vieillissement est équipé de capteurs SE (électrons secondaires), BSE (électrons rétrodiffusés), et EDS. Il peut travailler en vide partiel, pour imager des échantillons isolants sans métallisation préalable.

Contactez le Responsable

0472438238

Structure de rattachement

Laboratoire Ampère

36, avenue Guy de Collongue
Bâtiment H9
69134 Ecully Cedex
04 7218 6099

d'informations : Site internet

Le Laboratoire est structuré en 3 Départements scientifiques :

Email


Plateforme : Caractérisation et vieillissement de composants

Sonneville Camille

Responsable Plateforme

Structure de rattachement : Laboratoire Ampère
Tutelle de la plateforme :

INSA, CNRS, UCBL, ECL


21 avenue Jean Capelle
Bâtiment Léonard de Vinci,3ième étage
69622 Villeurbanne

Prise en Charge Totale :
Formation :
Accès avec Assistance Légère :
Ouvert aux académiques :
Ouvert aux entreprises :

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