MEB Hitachi S-3000N - Haut vide
- Pression controlée
- SE/BSE/ESED
- Haut vide
- Pression controlée
- SE/BSE/ESED
Microscopie > Electronique > Balayage > W
Cet appareil dispose de plusieurs modes (SE BSE ESED, haut vide, pression contrôlée) Il est accessible à tous utilisateurs académiques ou industriels aux tarifs proposés sur le site internet du CMES Il est très utile pour analyser l'état de surface et la conformation 3D d'échantillons divers et variés, N'hésitez pas à contacter le responsable du CMES pour plus d'informations.
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Faculté de Médecine de Saint-Etienne
10 Rue de la Marandière42270 Saint-Priest-en-Jarez
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d'informations : Site internet
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