Ce microscope à force atomique (AFM pour Atomic Force Microscopy) de marque Asylum fournit l'image d'une surface pour tout type d'échantillon solide dans la limite d'une rugosité de surface inférieure ou égale à 1-2 µm pic à pic. Les informations fournies par cet AFM concernent la caractérisation topographique, électrique, magnétique ou encore la dureté de l'extrème surface... La taille des plus petits objets détectables en surface est de quelques nanomètres en X et en Y. La hauteur observable des objets est comprise entre 0,5 nm et 2 µm et la dimension du coté des images carrées est comprise entre 100nm à 90µm. La taille maximale des échantillons pouvant être analysés sur cet AFM correspond typiquement aux dimensions d'une lame de microscope pour X et Y et une hauteur < 5 mm.

Possibilité de travailler en solution, à l'air avec les grand échantillon ou en atmosphère humide pour les échantillons de 10x10x3mm².

Structure de rattachement

ILM Tech

10 rue Ada Byron
Bâtiment Kastler
69622 Villeurbanne
04 724 329 93

d'informations : Site internet

Autres Plateformes de la structure

CISMALY

CECOMO

Plateforme AFM-SFA

PLECE

Agnès Piednoir

Responsable plateforme AFM-SFA

Structure de rattachement : ILM Tech
Fédération de recherche :

FRAMA

Tutelle de la plateforme :

UCBL/CNRS

Rue Ada Byron
Bâtiment Brillouin - Campus de la DOUA
69622 Villeurbanne

Prise en Charge Totale :
Formation :
Accès avec Assistance Légère :

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Ouvert aux académiques :
Ouvert aux entreprises :