La plateforme dispose de 3 microscopes à forces atomiques (AFM pour Atomic Force Microscopy) commerciaux qui fournissent l'image d'une surface. Cette image peut être la cartographie du relief, de la dureté, de la conductance, de l'adhésion, de l’extrême surface d'un échantillon. L'AFM peut fournir de nombreuses informations locales (à l'échelle de la pointe, c'est à dire quelques dizaines de nnm²) comme la densité surfacique d'objets, la rugosité de surface, la hauteur d'une marche ou l'épaisseur d'un dépôt, le module élastique, l'adhésion ou l'indentation.
Il nous est possible d'observer tout type de matériaux : verres, métaux, polymères, fibres, céramiques, plastiques, composites tant que la rugosité de surface est inférieure ou égale à 1µm pic à pic, et de