Diffractomètre à Rayons X Bruker D8 Advance - Haute Résolution
- Reflectomètre
- Reconstruction du réseau réciproque
- Mesures de texture
- Incidence rasante
- Diffraction poudre
- Haute Résolution
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Cristallographie > Diffractomètre > Diffraction des rayons X > Haute Résolution > Reflectomètrie > Couches Minces
Le centre diffractométrie Henri Longchambon dispose de quatre diffractomètre à rayons X. Le diffractomètre à rayons X Bruker D8 Discover Da Vinci est un diffractomètre haute résolution équippé d'un choix varié d'optiques. Il est principalement dédié à l'étude des couches minces ou dépôts (mono ou polycristallin). Il permet notemment de remonter à l'épaisseur des couches, leur orientation ou la rugosité aux interfaces. Les techniques accessibles sur cet appareil sont la diffraction haute résolution, la réflectomètrie, la diffraction en incidence rasante, les mesures de texture et la reconstitution du réseau réciproque .
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d'informations : Site internet
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