Jeanneau Erwann

Directeur

Plateforme : CDHL

Contactez le responsable

04 37 42 35 87

Email


* Votre mail est directement envoyé à l'interlocuteur ciblé, une copie de ce mail sera envoyé a Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser. pour le suivi.



Responsable des ressources

  • Diffractomètre à Rayons X Bruker D8 Advance
    • Haute Résolution
    • Reflectomètre
    • Reconstruction du réseau réciproque
    • Mesures de texture
    • Incidence rasante
    • Diffraction poudre
    Cristallographie > Diffractomètre > Diffraction des rayons X > Haute Résolution > Reflectomètrie > Couches Minces
  • Diffractomètre à Rayons X Bruker D8 Discover
    • bas angles
    • Haute resolution
    • Reflectometrie
    • Rasant
    • Angles élevés
    Cristallographie > Diffractomètre > Diffraction des rayons X > Poudre > Géométrie Bragg-Brentano
  • Diffractomètre Rayons X Rigaku Oxford Mova
    • basse temperature
    • haute pression
    Cristallographie > Diffractomètre > Diffraction des rayons X > Monocristal > Microsource Molybdène > Détecteur CCD
  • Microscopie > Optique



Copyright © 2022 Means. Tous droits réservés.
internet conception