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Responsable des ressources
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MEB FEG FEI Quanta 250
- Vide partiel
- Environnemental
- Cryo (Gatan system)
- Micro-analyse EDS
Microscopie > Electronique > Balayage > FEG -
MEB FEG ZEISS Merlin compact
- Micro-analyse EDS
- Vide partiel
- Détecteur In Lens
- Basse tension d'accélération (système de décélération)
- topographie (système 3DSM)
- Corrélatives (CLEM, système Shuttle and Find)
Microscopie > Electronique > Balayage > FEG -
MET FEG JEOL 2100F (200 kV)
- Micro-analyse EDS
- STEM-HAADF
- Diffraction (SAED)
- Tomographie (3D)
- Haute résolution (HRTEM)
Microscopie > Electronique > Transmission > FEG -
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MET W Philips CM120
- Cryo (Gatan system)
- Micro-analyse EDX/EDS (Rayons X)
Microscopie > Electronique > Transmission > W -
Microscope confocal ZEISS LSM800 inversé
- Corrélatives (CLEM)
- Chambre thermo-régulée
- Reconstruction 3D
Microscopie > Optique > Confocal > Mono-photon -
Préparation de matériaux > Congélation > Substitution à froid -
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Préparation de matériaux > Contournement de point critique
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Polisseuse mécanique automatique PRESI Mecatech 250
- 4 échantillons
- Plateau 250 mm
- Plot 40/25 mm
Préparation de matériaux > Polisseuse -
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