AFM Multimode Bruker (Veeco)

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Microscopie > Force atomique

Ce microscope à force atomique (AFM pour Atomic Force Microscopy) de marque Bruker fournit l'image d'une surface pour tout type d'échantillon solide dans la limite d'une rugosité de surface inférieure ou égale à 0,5 µm pic à pic. Les informations fournies par cet AFM concernent la caractérisation topographique, électrique, magnétique ou encore la dureté... La taille des plus petits objets détectables en surface est de quelques nanomètres en X et en Y. La hauteur observable des objets est comprise entre 0,5 et 500 nm et la dimension du coté des images carrées est comprise entre 100nm à 100µm. La taille maximale des échantillons pouvant être analysés sur cet AFM est la suivante : 15 mm de diamètre maximal, 12*12 mm en X et en Y pour les carrés et 6 mm maximum de hauteur. Possibilité de travailler en solution ou sous air.

Contactez le Responsable

0472448151

Structure de rattachement

ILM Tech

10 rue Ada Byron
Bâtiment Kastler
69622 Villeurbanne
04 724 329 93

d'informations : Site internet

Autres Labos/Plateformes de la structure

Email


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Laboratoire / Plateforme
Plateforme AFM-SFA
Structure de rattachement : ILM Tech
Fédération de recherche :

FRAMA


Tutelle du labo :

UCBL/CNRS


Rue Ada Byron
Bâtiment Brillouin - Campus de la DOUA
69622 Villeurbanne

d'informations : Site internet

Prise en Charge Totale :
Formation :
Accès avec Assistance Légère :
Ouvert aux académiques :
Ouvert aux industriels :


MEANS

Coordonnées


Comité de pilotage

Composition :

  • en cours de constitution

Cellule MEANS

  • S. Gavarini : CTµ, FRAMA/ICL/BioEnvis – Coordinateur (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • E. Jeanneau : CDHL, ICL (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • P. Pittet : NanoLyon, FRAMA et ICL (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • J. Briolay : DTamb, BioEnvis (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • C. Oger : PRABI, BioEnvis (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • C. Pera : Modélisation et Sc. numérique Fr FLMSN (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • R. Chiriac : Analyse thermique, ICL (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • Anne Baudouin (CCRMN)
  • Virginie Gueguen-Chaignon (PSF)
  • Brigitte Prevel (ILMTECH)