
AFM Multimode Bruker (Veeco)
Ce microscope à force atomique (AFM pour Atomic Force Microscopy) de marque Bruker fournit l'image d'une surface pour tout type d'échantillon solide dans la limite d'une rugosité de surface inférieure ou égale à 0,5 µm pic à pic. Les informations fournies par cet AFM concernent la caractérisation topographique, électrique, magnétique ou encore la dureté... La taille des plus petits objets détectables en surface est de quelques nanomètres en X et en Y. La hauteur observable des objets est comprise entre 0,5 et 500 nm et la dimension du coté des images carrées est comprise entre 100nm à 100µm. La taille maximale des échantillons pouvant être analysés sur cet AFM est la suivante : 15 mm de diamètre maximal, 12*12 mm en X et en Y pour les carrés et 6 mm maximum de hauteur. Possibilité de travailler en solution ou sous air.
Structure de rattachement

ILM Tech
10 rue Ada ByronBâtiment Kastler
69622 Villeurbanne
04 724 329 93
d'informations : Site internet
Autres Labos/Plateformes de la structure
Plateforme AFM-SFA
Fédération de recherche :
FRAMA
Tutelle du labo :
UCBL/CNRS
Rue Ada Byron
Bâtiment Brillouin - Campus de la DOUA
69622 Villeurbanne
d'informations : Site internet

Formation :

Accès avec Assistance Légère :

Ouvert aux académiques :

Ouvert aux industriels :
