AFM Multimode Bruker (Veeco)

Microscopie > Force atomique

Ce microscope à force atomique (AFM pour Atomic Force Microscopy) de marque Bruker fournit l'image d'une surface pour tout type d'échantillon solide dans la limite d'une rugosité de surface inférieure ou égale à 0,5 µm pic à pic. Les informations fournies par cet AFM concernent la caractérisation topographique, électrique, magnétique ou encore la dureté... La taille des plus petits objets détectables en surface est de quelques nanomètres en X et en Y. La hauteur observable des objets est comprise entre 0,5 et 500 nm et la dimension du coté des images carrées est comprise entre 100nm à 100µm. La taille maximale des échantillons pouvant être analysés sur cet AFM est la suivante : 15 mm de diamètre maximal, 12*12 mm en X et en Y pour les carrés et 6 mm maximum de hauteur. Possibilité de travailler en solution ou sous air.

Structure de rattachement

ILM Tech

10 rue Ada Byron
Bâtiment Kastler
69622 Villeurbanne
04 724 329 93

d'informations : Site internet

Autres Labos/Plateformes de la structure

• 
  CISMALY
• 
  CECOMO
• 
  Plateforme AFM-SFA
• 
  PLECE

Structure de rattachement : ILM Tech
Fédération de recherche :

FRAMA

Tutelle du labo :

UCBL/CNRS

Rue Ada Byron
Bâtiment Brillouin - Campus de la DOUA
69622 Villeurbanne

d'informations : Site internet

Prise en Charge Totale :
Formation :
Accès avec Assistance Légère :

---

Ouvert aux académiques :
Ouvert aux industriels :