Ce microscope à force atomique (AFM pour Atomic Force Microscopy) de marque Park fournit l'image d'une surface pour tout type d'échantillon solide dans la limite d'une rugosité de surface inférieure ou égale à 0,5 µm pic à pic. Cet AFM fournit la caractérisation topographique ainsi qu'une information sur les inhomogénéités de dureté. La taille des plus petits objets détectables en surface est de quelques nanomètres, ce qui suppose un échantillon particulièrement propre. L'aire des images possibles est 100x100µm²

La taille maximale des échantillons pouvant être déposés pour analyse sur le scanner de cet AFM est de plusieurs cm en X et en Y et 50 mm maximum de hauteur.

Structure de rattachement

ILM Tech

10 rue Ada Byron
Bâtiment Kastler
69622 Villeurbanne
04 724 329 93

d'informations : Site internet

Autres Plateformes de la structure

CISMALY

CECOMO

Plateforme AFM-SFA

PLECE

Agnès Piednoir

Responsable plateforme AFM-SFA

Structure de rattachement : ILM Tech
Fédération de recherche :

FRAMA

Tutelle de la plateforme :

UCBL/CNRS

Rue Ada Byron
Bâtiment Brillouin - Campus de la DOUA
69622 Villeurbanne

Prise en Charge Totale :
Formation :
Accès avec Assistance Légère :

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Ouvert aux académiques :
Ouvert aux entreprises :