Plateforme AFM-SFA

Plateforme AFM-SFA

La plateforme dispose de 3 microscopes à forces atomiques (AFM pour Atomic Force Microscopy) commerciaux qui fournissent l'image d'une surface. Cette image peut être la cartographie du relief, de la dureté, de la conductance, de l'adhésion, de l’extrême surface d'un échantillon. L'AFM peut fournir de nombreuses informations locales (à l'échelle de la pointe, c'est à dire quelques dizaines de nnm²) comme la densité surfacique d'objets, la rugosité de surface, la hauteur d'une marche ou l'épaisseur d'un dépôt, le module élastique, l'adhésion ou l'indentation.
Il nous est possible d'observer tout type de matériaux : verres, métaux, polymères, fibres, céramiques, plastiques, composites tant que la rugosité de surface est inférieure ou égale à 1µm pic à pic, et de

Structure de rattachement : ILM Tech
Fédération de recherche :

FRAMA


Tutelle de la plateforme :

UCBL/CNRS

Site internet

Rue Ada Byron
Bâtiment Brillouin - Campus de la DOUA
69622 Villeurbanne

Contactez le Responsable

0472448151

Structure de rattachement

ILM Tech

10 rue Ada Byron
Bâtiment Kastler
69622 Villeurbanne
04 724 329 93

d'informations : Site internet

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