AFM MFP 3d Asylum

Microscopie > Force atomique

Ce microscope à force atomique (AFM pour Atomic Force Microscopy) de marque Asylum fournit l'image d'une surface pour tout type d'échantillon solide dans la limite d'une rugosité de surface inférieure ou égale à 1-2 µm pic à pic. Les informations fournies par cet AFM concernent la caractérisation topographique, électrique, magnétique ou encore la dureté... La taille des plus petits objets détectables en surface est de quelques nanomètres en X et en Y. La hauteur observable des objets est comprise entre 0,5 nm et 1µm et la dimension du coté des images carrées est comprise entre 100nm à 90µm. La taille maximale des échantillons pouvant être analysés sur cet AFM correspond typiquement aux dimensions d'une lame de microscope, soit une hauteur < 5 mm. Possibilité de travailler en solution ou sous air.

Structure de rattachement

ILM Tech

10 rue Ada Byron
Bâtiment Kastler
69622 Villeurbanne
04 724 329 93

d'informations : Site internet

Autres Labos/Plateformes de la structure

• 
  CISMALY
• 
  CECOMO
• 
  Plateforme AFM-SFA
• 
  PLECE

Structure de rattachement : ILM Tech
Fédération de recherche :

FRAMA

Tutelle du labo :

UCBL/CNRS

Rue Ada Byron
Bâtiment Brillouin - Campus de la DOUA
69622 Villeurbanne

d'informations : Site internet

Prise en Charge Totale :
Formation :
Accès avec Assistance Légère :

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Ouvert aux académiques :
Ouvert aux industriels :