AFM MFP 3d Asylum

  • Contact
  • Contact intermittent
  • Mode électrique
  • Mode magnétique
  • Air/liquide

Microscopie > Force atomique

Ce microscope à force atomique (AFM pour Atomic Force Microscopy) de marque Asylum fournit l'image d'une surface pour tout type d'échantillon solide dans la limite d'une rugosité de surface inférieure ou égale à 1-2 µm pic à pic. Les informations fournies par cet AFM concernent la caractérisation topographique, électrique, magnétique ou encore la dureté... La taille des plus petits objets détectables en surface est de quelques nanomètres en X et en Y. La hauteur observable des objets est comprise entre 0,5 nm et 1µm et la dimension du coté des images carrées est comprise entre 100nm à 90µm. La taille maximale des échantillons pouvant être analysés sur cet AFM correspond typiquement aux dimensions d'une lame de microscope, soit une hauteur < 5 mm. Possibilité de travailler en solution ou sous air.

Contactez le Responsable

0472448151

Structure de rattachement

ILM Tech

10 rue Ada Byron
Bâtiment Kastler
69622 Villeurbanne
04 724 329 93

d'informations : Site internet

Autres Labos/Plateformes de la structure

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Laboratoire / Plateforme
Plateforme AFM-SFA
Structure de rattachement : ILM Tech
Fédération de recherche :

FRAMA


Tutelle du labo :

UCBL/CNRS


Rue Ada Byron
Bâtiment Brillouin - Campus de la DOUA
69622 Villeurbanne

d'informations : Site internet

Prise en Charge Totale :
Formation :
Accès avec Assistance Légère :
Ouvert aux académiques :
Ouvert aux industriels :


MEANS

Coordonnées


Comité de pilotage

Composition :

  • en cours de constitution

Cellule MEANS

  • S. Gavarini : CTµ, FRAMA/ICL/BioEnvis – Coordinateur (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • E. Jeanneau : CDHL, ICL (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • P. Pittet : NanoLyon, FRAMA et ICL (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • J. Briolay : DTamb, BioEnvis (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • C. Oger : PRABI, BioEnvis (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • C. Pera : Modélisation et Sc. numérique Fr FLMSN (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • R. Chiriac : Analyse thermique, ICL (Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.)
  • Anne Baudouin (CCRMN)
  • Virginie Gueguen-Chaignon (PSF)
  • Brigitte Prevel (ILMTECH)